产品简介

主要特点和优势

光学测量单层薄膜厚度，无变形，可单点位重复测量，每秒最多30次测量

单层透明薄膜、单层半透明薄膜、单层透明涂层、单层半透明涂层。

半导体镀膜、锂电池隔膜（基膜）、电容器膜、PET膜、BOPP膜

1、光源发出的光线通过探头照射到待测膜层，并在膜层表面反射，返回探头。

2、膜层上下界面的反射光发生干涉，形成反射光谱。

3、给定薄膜材料的系数后，可以通过测量的反射光谱应用反演求逆算法计算出薄膜厚度。

技术参数

测量结果